Quantitative strain mapping in semiconductors by 4D STEM

Giorno 17 febbraio 2026, con inizio alle ore 16:00, presso la Sala Conferenze del DFA, la Dr Helena Rabelo-Freitas (Catalan Institute of Nanoscience and Nanotechnology – ICN2 (CSIC and BIST), Campus UAB, Bellaterra, Barcelona, Catalonia, Spain) terrà un seminario dal titolo Quantitative strain mapping in semiconductors by 4D STEM.

Tutte le persone interessate sono invitate a partecipare.